半導體電性能測試應(yīng)用的專業(yè)領(lǐng)域十分廣泛，分別有：微電子、集成電路、物理與電子工程、航空航天、材料科學與工程、材料與能源、電子科學與工程、光電信息與能源工程等等等...

數(shù)字源表作為電學測量的常用儀器，在高校和研究所的相關(guān)實驗室內(nèi)幾乎都能看到，源表集多表合一、配上專業(yè)軟件即可實現(xiàn)各種定制測量，使用非常廣泛。 S型數(shù)字源表在一個半機架尺寸的儀器中結(jié)合了電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負載等功能，這些測試功能，令S型觸摸屏數(shù)字源表具有I-V特性測試系統(tǒng)、曲線追蹤儀和半導體分析儀的各種測試能力，而成本更低廉。

iv測試儀+半導體分立器件I-V曲線掃描儀都有哪些應(yīng)用呢？

實驗篇

在實際應(yīng)用中，不同專業(yè)領(lǐng)域所進行的電性能測試實驗是不同的，下面就來展示一些典型的實驗現(xiàn)象。

I-V特性測試

電流電壓我都要，性能測試有一套！

C-V特性測試

輸入/輸出特性測試

輸入特性曲線

輸出特性曲線

反向擊穿電壓測試

講到這里，小編還是要說一句，半導體電性能測試實驗遠遠不止這些，在各種實驗項目中,多功能數(shù)字源表不可缺。

普賽斯儀表專注于半導體電性能測試領(lǐng)域，基于高精度數(shù)字源表綜合實驗平臺，可提供多種實驗測量環(huán)境，搭配豐富的測試夾具及實驗器材，滿足半導體電性能測試需求，提高測試效率。

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