基于普賽斯S/CS系列源表的直流l-V特性測(cè)試系統(tǒng)

  整套測(cè)試系統(tǒng)基于普賽斯S/CS系列源表,配合探針臺(tái)以及專用測(cè)試軟件,可用于GaN   HEMT、GaAs射頻器件直流參數(shù)測(cè)試,包括閾值電壓、電流、輸出特性曲線等。

S/CS系列直流源表

  S系列源表是普賽斯歷時(shí)多年打造的高精度、大動(dòng)態(tài)范圍、數(shù)字觸摸的率先國(guó)產(chǎn)化源表,集電壓、電流的輸入輸出及測(cè)量等多種功能,Z大電壓300V,Z大電流1A,支持四象限工作,支持線性、對(duì)數(shù)、自定義等多種掃描模式。可用于生產(chǎn)、研發(fā)中的GaN、GaAs射頻材料以及芯片的直流l-V特性測(cè)試。

  CS系列插卡式源表(主機(jī)+子卡)是針對(duì)多通道測(cè)試場(chǎng)景推出的模塊化測(cè)試產(chǎn)品。普賽斯插卡式源表單臺(tái)設(shè)備Z高可選配10張子卡,具有電壓、電流的輸入輸出及測(cè)量等多種功能,Z大電壓300V,Z大電流1A,支持四象限工作,具有通道密度高、同步觸發(fā)功能強(qiáng)、多設(shè)備組合效率高等特點(diǎn)。

  對(duì)于射頻器件的直流特性測(cè)試,其柵極電壓一般在±10V以內(nèi),源、漏端電壓在60V以內(nèi)。此外,由于器件為三端口類型,因此,至少需2臺(tái)S源表,或者2通道CS子卡。

輸出特性曲線測(cè)試

 在柵、源電壓VGs一定的情況下,源、漏電流lbs與電壓Vos之間的變化曲線,稱為輸出特性曲線。隨著Vos的增加而不斷,電流los也不斷增加至飽和狀態(tài)。此外,通過(guò)測(cè)試不同柵、源電壓Vcs值,可以獲得一組輸出特性曲線。

跨導(dǎo)測(cè)試

  跨導(dǎo)gm是表征器件柵極對(duì)溝道控制能力強(qiáng)弱的參數(shù),跨導(dǎo)值越大,說(shuō)明柵極對(duì)溝道的控制能力越強(qiáng)。

  其定義為gm=dlDs/dVgo在源、漏電壓一定的情況下,測(cè)試源、漏電流lDs與柵、源電壓VGs之間的變化曲線,并對(duì)曲線進(jìn)行求導(dǎo),即可得到跨導(dǎo)值。其中,跨導(dǎo)值Z大的地方稱為gm,max。

武漢普賽斯一直專注于功率器件、射頻器件以及第三代半導(dǎo)體領(lǐng)域電性能測(cè)試儀表與系統(tǒng)開(kāi)發(fā),基于核心算法和系統(tǒng)集成等技術(shù)平臺(tái)優(yōu)勢(shì),率先自主研發(fā)了高精度數(shù)字源表、脈沖式源表、脈沖大電流源、高速數(shù)據(jù)采集卡、脈沖恒壓源等儀表產(chǎn)品以及整套測(cè)試系統(tǒng)。產(chǎn)品廣泛應(yīng)用在功率半導(dǎo)體材料與器件、射頻器件、寬禁帶半導(dǎo)體的分析測(cè)試領(lǐng)域。可根據(jù)用戶的需求,提供高性能、高效率、高性價(jià)比的電性能測(cè)試綜合解決方案。